随着汽车向电动化、智能化、网联化进阶，对高安全性、高可靠性、高算力的MCU芯片的需求也快速增长。相比消费类电子产品使用的芯片，车规级芯片对稳定性和安全性要求更高，需要协同专业的测试设备和测试方法，并且保证较长的测试周期。目前，国内MCU设计公司主要通过与第三方测试机构的合作来完成芯片的可靠性测试认证，资源的协调和时效性难以得到充分保障。

灵动汽车芯片测试验证实验室由原“核高基”重大专项专家组成员、中国电子技术标准化研究院总工、工控及车规芯片责任专家、上海汽车电子芯片国产化技术专家组委员陈大为亲自挂帅建设。从成立之初，实验室就以国际化视野进行策划，根据国际检测与校准实验室的通用要求（ISO/IEC 17025）标准进行建设，以国际汽车电子元器件可靠性系列标准（AEC-Q100/AEC-Q104）为基础进行相关测试。基于对 AEC-Q100的深入研究学习理解，灵动车规实验室仔细分析了标准中七大类41项试验要求，根据实验室的特点与客户的情况，专门设计了 AEC-Q100的全套流程；并经反复实践，使近3000颗样品在汽车芯片认证全套试验项目的测试能以最短的时间、最高的利用率有条不紊地高效进行。同时，基于灵动专业夯实的MCU芯片研发能力，实验室测试工程师可以无缝地与产品设计师合作，选定关键测试项与相关条件，攻克测试关键技术难点，确保测试程序合理、测试向量覆盖率达到要求。不断提升灵动系列产品的质量可靠性水平。

未来，灵动汽车芯片测试验证实验室将携手产业链上下游的合作伙伴，打通自主汽车芯片上车应用的技术通道和产业通道，努力实现汽车芯片的国产替代和国际开拓，助力国产车规级芯片大力发展！

1. 高效完整的 AEC-Q100H 全项目管控流程，确保样品在灵动微实验室进行车规试验是符合标准要求的

2. 严格遵循AEC-Q100H的要求。所有测试项目具有真实原始数据记录与该项目测试结论并可追溯和可溯源，并可以向客户提供“车规产品数据包”服务，可供客户对灵动产品的前期历史数据进行查询与追溯

3. 全温 （-55~125 度）ATE电性能参数测试能力，真正做到了样品在可靠性试验前后进行严格的电性参数退化测试分析，为样品可靠性试验效果提供科学的判断依据

4. 高达 10 MHz 真实测试向量的动态老炼/测试 HTOL 环境，灵动微通过与可靠性试验设备商的合作，专门开发了HTOL 设备，成功地实现了针对MCU产品高达 10 MHz 的真实测试向量的动态老炼/测试

5. 基于对EMC 的理解，开展了比 AEC-Q100H要求更为全面的汽车 IC EMC 测试项目的测试实践，可以更好地满足不同客户对IC EMC 的要求

6. 通过公司强大的半导体数据分析工具与专业的数据处理团队，为汽车芯片提供符合车规要求的完整的 PAT/DPAT 与 SBA 筛选测试策略与相关数据分析